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KP Technology掃描開爾文探針-材料表征 非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界高分辨率的測試系統。

超高真空開爾文探針-材料表征 開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，

氣氛可控開爾文探針-材料表征 氣氛可控開爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃，采用先進的電子和硬件系統即時監測控制溫度和濕度變化，附加表面光

單點開爾文探針-材料表征 開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界高分辨率的測試系統。

皮可安培計-材料表征 技術參數： 接口 輸入: BNC; 模擬輸出: Banana jacks 偏壓選項： 無偏壓/ 內置偏壓 （± 90 V DC）/ 外置偏壓 （BNC）

開爾文探針系統-半導體表征 開爾文探針系統材料表面的功函數通常由上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種較靈敏的表面分析技術。

皮可安培計（USB接口）-材料表征 技術參數： 接口 輸入: BNC; 模擬輸出 偏壓選項： 無偏壓/ 內置偏壓 （± 90 V DC）/ 外置偏壓 （BNC）

俄歇電子能譜儀（在線表面分析）-材料表征 The microCMA is a compact （2.75“ CF mount） cylindrical mirror type Auger （AES, Auger Electron Spectroscopy） analyzer.